اندازه گیری نیروی چسبندگی سطحی و خواص فیزیکی لایه های نانو کامپوزیت ps-tio2 توسط میکروسکوپ نیروی اتمی (afm)

هدف از این تحقیق بررسی تأثیر تابش نور فرابنفش و گذشت زمان بر نیروی چسبندگی سطحی و تخریب نمونه های ساخته شده از نانوکامپوزیت های پلی استایرن- دی اکسید تیتانیوم و رزین اپکسی- خاک رس است . پلی استایرن یکی از پرکاربردترین پلیمرهای صنعتی است و کاربرد آن در زندگی روزانه ما روبه افزایش است . اما مقاومت بسیار بالای آن در مقابل تجزیه در محیط ، آنرا به خطری برای منابع زیست محیطی تبدیل کرده است . در این پروژه ، لایه های نازکی با درصدهای متفاوت از نانوکامپوزیت پلی استایرن- دی اکسید تیتانیوم به روش لایه نشانی چرخشی ساخته شد و خواص فیزیکی ، نیروی چسبندگی سطحی و ناهمواری نمونه ها توسط روشهای میکروسکوپی سطح مانند میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) ، قبل و بعد از تابش نور فرابنفش اندازه گیری و بررسی شد . نتایج حاصل از آزمایشات نشان دهنده اینست که اضافه نمودن نانو ذرات دی اکسید تیتانیوم به زمینه پلیمری پلی استایرن ، به علت خواص فوتوکاتالیستی دی اکسید تیتانیوم تحت تابش نور فرابنفش ، باعث افزایش تخریب سطحی و درنتیجه تجزیه سریع تر این مواد در محیط می شود . همچنین مشاهده شد که نحوه تهیه سوسپانسیون ps – tio2 ، تأثیر بسیاری بر افزایش میزان تخریب دارد . ساختار شیمیایی اپکسی ها و تنوع کاربردهای تجاری آنها باعث شده که اپکسی ها با ویژگی هایی مختلف و متنوع تولید شوند . در کل ، اپکسی ها بدلیل چسبندگی و خواص مکانیکی خوب و عایق الکتریکی بودن ، شناخته می شوند . اندازه گیری نیروی چسبندگی سطحی نمونه های ساخته شده از نانو کامپوزیت رزین اپکسی- خاک رس ، توسط میکروسکوپ نیروی اتمی به روش f.v ، نشان داد که اضافه نمودن نانو ذرات خاک رس به رزین اپکسی باعث افزایش نیروی چسبندگی سطحی و درنتیجه افزایش مقاومت آنها در برابر سایش و خوردگی می شود .